泰克Keithley 2650 系列高功率 SourceMeter® SMU 仪器
2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件(例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件)的检定和测试而设计。 它们提供前所未有的功率、精度、速度、灵活性和易用性,可提高研发、生产测试和可靠性环境中的效率。 有两种仪器可用,提供高达 3000V 或高达 2000W 的脉冲电流功率。
特点 | 优势 |
高度灵活的四象限电压和电流源/负载,与高精度电压表和电流表相耦合 | 提供相比同类产品颇具优势的性能,具有 6½ 位分辨率。 |
源或阱 (2651A) 脉冲功率高达 2000W(±40V、±50A),或直流电源高达 200W(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A);轻松连接两个器件(串联或并联)创建高达 ±100A 或 ±80V 的解决方案 | 支持功率半导体、HBLED、光学设备、太阳能电池、GaN、SiC 和其他复合材料与设备的检定/测试。应用范围包括半导体接点温度检定;高速、高精度数字化;电迁移研究;以及高电流、高功率设备测试。 |
源或阱 (2657A) 直流或脉冲功率高达 180W(±3000V@20mA、±1500V@120mA) | 提供功率半导体器件检定和测试所需的高压,包括 GaN、SiC 及其他复合材料和器件、高达 3kV 的故障和漏电测试以及亚毫秒瞬态检定。 |
内置基于网络浏览器的软件 | 支持通过任何浏览器、任何计算机、从全球任何地方进行远程控制。 |
有数字化或积分测量模式可供选择 | 支持精确检定瞬态和稳态行为,包括快速变化的热效应。 |
TSP(测试脚本处理)技术 | 可以与 2657A 型与 2600B 系列型号轻松地进行系统集成。 |
TSP-Link 通道扩展总线 | 让多台 2651A 和 2657A 与所选 2600B 系列 SMU 仪器组合成多达 32 条通道的集成系统。 |
兼容于 8010 型高功率设备测试夹具和 8020 型高功率接口面板 | 为封装部件或晶片级高功率设备测试提供安全而方便的连接。 |
免费的测试脚本构建器软件工具 | 帮助您创建、修改、调试和存储 TSP 测试脚本。 |
选配的 ACS 基础半导体元器件检定软件 | 开发、质量检验或故障分析期间执行封装部件检定时,较大限度地提高工作效率。 |
大功率2651A 型数字源表进一步丰富了2600A 系列产品。该源表专门针对大功率电子器 件的特性分析和测试而优化设计,可帮助用户在研发、可靠性及生产领域提高生产力,包 括高亮度LED、功率半导体、DC/DC 转换器、电池,以及其他大功率材料、元件、模块 和组件的特性分析和测试。
与2600A 系列产品的每个成员一样,2651A 具有高灵活性、四象限电压和电流源/负载, 组合了精密电压和电流表。该源表可作为:
• 半导体特征分析仪
• 电压或电流波形发生器
• 电压或电流脉冲发生器
• 精密电源
• 真电流源
• 数字多用表(直流电压,直流电流,电阻和功率,分辨率达5½位)
• 精密电子负载
2651A 型可输出或吸入高达±40V 和50A。
主要特性:
• 源或阱:
- 2,000W脉冲功率(±40V,±50A);
- 200W直流功率(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A)
• 方便地连接两个单元(串联或并联)形成±100A 或±80V 解决方案
• 1pA 分辨率,可精密测量极低的漏电流
• 1μs/点(1MHz),连续18 位A/O 转换器,精确的瞬态特性分析
• 1%至100%脉冲占空比,适用于脉宽调制(PWM)驱动型器件和特殊驱动类型期间的激励
• 组合了精密电压源、电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器及测量、电子负载及触发控制器——多功能一体的仪器
• 包括TSP®Express 特性分析软件、LabVIEW®驱动,以及吉时利的Test Script Builder(测试脚本编辑器)软件开关环境。
典型应用:
• 功率半导体、HBLED 和光器件特性分析和测试
• GaN、SIC 及其他复合材料和
器件的特性分析
• 半导体结温度特性分析
• 高速、高精度数字化
• 电迁移研究
• 大电流、大功率器件测试
两种测量模式:数字化或积分
2651A 型有两种测量模式可对瞬态和稳态行为进行精密地特性分析,包括快速变化的热 效应。每种模式均由其独立的模/数(A/D)转换器定义。
在数字化测量模式下,连续进行1μs/点采样,每秒可捕获1,000,000 个读数。其18 位 A/D 转换器使用户能够精密测量瞬态特性。对于更准确的测量,可利用基于22 位A/D 转 换器的积分测量模式。全部2600A 系列仪器均具有积分测量模式。
每种测量模式下使用两个A/D 转换器(一个 用于电流,另一个用于电压),可同时运行 用于准确源读回,不会影响测试效率。
双数字化A/D 转换器以高达1μs/点速率进行连 续采样,同时对电流和电压波形进行特性分析。
高速脉冲
2651A 型能够准确输出和测量短至100μs 的脉冲,将测试期间的自热效应影响降至 最低。更大的控制灵活性使用户能够在 100μs 至DC 范围内编程脉宽,在1%至 100%范围内编程占空比。单台仪器可输出 高达50A 电流脉冲,两台组合可输出高达 100A 电流脉冲。
扩展能力
利用TSP-Link®,可将多台2651A 和其 他2600A 系列仪器组合在一起,形成最 多64 路通道的更大集成系统。利用内置 500ns 触发控制器,确保精密定时和严 格通道同步。源表仪器的完全隔离、独 立通道确保了真正的SMU-per-pin 测试。
吉时利的TSP 和TSP-Link 技术确保实现真 正的SMU-per-pin 测试,不存在基于主机系 统的功率和/或通道限制。
此外,两台2651A 型采用TSP-Link 并 联时,电流量程从50A 扩展至100A。 当两个单元串联时,电压范围从40V 扩 展至80V。内置智能特性使多个单元可 作为单台仪器进行寻址,简化了测试, 由此形成业内最佳的动态范围(100A 至 1pA)。这种能力确保用户可测试各种各 样的功率半导体和其他器件。
高达50A (2 个单元可达100A)的精密测量确 保更完善和准确的特性分析。
1μV 测量分辨率和高达50A (2 个单元可达 100A)的电流源输出确保低电平Rds 测量,支 持新一代器件。
2600A 系列仪器的标准能力
每款2651A 均具备其他2600A 系列仪器 提供的全部特性和能力,包括:
• 既可作为台式I-V 特性分析工具,又可 作为多通道I-V 测试系统的组成部分。
• 无需编程或安装,TSP Express 软件 即可快速、简便地执行常见的I-V 测试。
• ACS 基本版软件,用于半导体元器件 特性分析(选件)。ACS 基本版软件现 在具备一种Trace 模式,用于产生一 套特性曲线。
• 吉时利的TSP®(测试脚本处理器)软件, 能够创建用户自定义测试脚本,实现 自动化程度更高的测试,并且支持创 建编程序列,使仪器在没有PC 直接控 制的情况下异步工作。
• 多台2600A 系列仪器连接在一个系统 中,实现并行测试和精密定时。
• 符合LXI class C 标准。
• 14 位I/O 线,与探针台、元件装卸装 置或其他自动化工具直接交互。
• USB 端口,利用USB 存储装置实现更 大的数据和程序存储空间。
简明技术指标
电压准确度
源 | 测量 | ||||
量程 | 编程分辨率 | 准确度±(% 读数电流) | 显示分辨率 | 积分ADC 准确度±(% 读数+电压) | 高速ADC 准确度±(% 读数+电压) |
100.000 mV | 5 μV | 0.02% + 500 μV | 1 μV | 0.015% + 300 μV | 0.015% + 600 μV |
1.00000 V | 50 μV | 0.02% + 500 μV | 10 μV | 0.015% + 300 μV | 0.015% + 600 μV |
10.0000 V | 500 μV | 0.02% + 5 mV | 100 μV | 0.015% + 3 mV | 0.015% + 8 mV |
20.0000 V | 500 μV | 0.02% + 5 mV | 100 μV | 0.015% + 3 mV | 0.015% + 8 mV |
40.0000 V | 500 μV | 0.02% + 12 mV | 100 μV | 0.015% + 8 mV | 0.015% + 15 mV |
其他源技术指标
噪声(10Hz–20MHz):<100mV 峰-峰值(典型 值),<30mV RMS (典型值)。
过冲:电压:<±(0.1% + 10mV)(典型值)。
电流:<±0.1%(典型值)。
远端检测工作范围:
HI 和SENSE HI 之间的最大电压 = 3V。
LO 和SENSE LO 之间的最大电压 = 3V。
电压源输出建立时间:<50μs 最佳量程。
电流源输出建立时间:<80μs 最佳量程。
每路源引线的最大阻抗:最大阻抗受限于远端
检测工作范围的3V 压降。
最大电阻 = 3V/源电流值(A)。
3V = L di/dt。
其他测量技术指标
最大负载阻抗:
常规模式:10nF(典型值),3μH(典型值)。
大电容模式:50μF(典型值),3μH(典型值)。
测量输入阻抗:>10GΩ。
共模电压:250 VDC。
接触检查:内置。
功率技术指标
最大输出功率和源/阱限值:
电压 | 电流 |
202 W,最大 | 202 W,最大 |
±10.1 V @ ±20.0 A | ± 5.05 A @ ± 40 V |
±20.2 V @ ±10.0 A | ± 10.1 A @ ± 20 V |
±40.4 V @ ± 5.0 A | ± 20.2 A @ ± 10 V |
四象限输出或吸入操作。 | 四象限输出或吸入操作。 |
电流和电压量程扩展:两台2651A 可通过串联或并联扩展某些应用下的工作量程和功率性能。请参见网站www.tek.com.cn 的应用指南。
>
有源负载操作:注意:当2651A 配合另一台系统源表仪器或其他任何有源负载工作时,需要将2651A 的输出关闭 模式设置为“OUTPUT_ACTIVE_LOAD”。更多详细信息请参考2651A 的参考手册。
脉冲技术指标
最小可编程脉宽:100μs。 脉宽编程分辨率:1μs。 从脉冲起点至关闭时间起点测得:
最小脉冲上升时间:
电流量程 | 负载电阻 | 上升时间(典型值) |
50 A | 0.05 Ω | 25 μs |
50 A | 0.2 Ω | 57 μs |
50 A | 0.4 Ω | 85 μs |
20 A | 0.5 Ω | 90 μs |
50 A | 0.8 Ω | 120 μs |
20 A | 1 Ω | 180 μs |
10 A | 2 Ω | 330 μs |
5 A | 8 Ω | 400 μs |
占空比:1%–100%
测量速度技术指标
最大扫描速率(操作/秒),60Hz (50Hz):
A/D 转换器速 度 | (操作/秒),6 | 0Hz (50Hz): 用户脚本测量至 存储器 | 用户脚本测量至 | 用户脚本源测量至 | 用户脚本源测量 | 扫描 API 源测量 | 扫描 API 源测量 |
0.001 NPLC | 内部 | 20000 (20000) | 10000 (10000) | 7000 (7000) | 6200 (6200) | 12000 (12000) | 5900 (5900) |
0.001 NPLC | 数字 I/O | 8100 (8100) | 7100 (7100) | 5500 (5500) | 5100 (5100) | 11200 (11200) | 5700 (5700) |
0.1 NPLC | 内部 | 580 (480) | 560 (470) | 550 (465) | 550 (460) | 560 (470) | 545 (460) |
1.0 NPLC | 内部 | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) |
HS ADC | 内部 | 38500 (38500) | 20000 (20000) | 10000 (10000) | 9500 (9500) | 14300 (14300) | 6300 (6300) |
最大单次测量速率(操作/秒),60Hz (50Hz):
A/D 转换器速度 | 触发源 | 测量至 GPIB | 源输出测量至 | 源输出测量合格/不合格 |
0.001 NPLC | 内部 | 1900 (1800) | 1400 (1400) | 1400 (1400) |
1.0 NPLC | 内部 | 58 (48) | 57 (48) | 57 (48) |
最大测量量程变化:143 μs
最大源量程变化:2.5 ms
最大源功能量程变化:1.0 ms
高速ADC 脉冲串测量速率:
脉冲串长度(读数) | 读数/s | 脉冲串/s |
100 | 1M | 400 |
500 | 1M | 80 |
1000 | 1M | 40 |
2500 | 1M | 16 |
5000 | 1M | 8 |
触发和同步技术指标
触发:触发输入至触发输出:0.5μs,典型值。
同步:单或多节点同步源变化:<0.5μs,典型值。
编程
测试脚本编辑器(TSB):集成开发环境,用于创建、运行和管理TSP 脚本。
TSP Express(嵌入式):无需编程或安装,即可快速、简便地执行常见的IV 测试。
其他软件接口:TSP Express(嵌入式)、Direct GPIB/VISA、Read/Write, 利用VB、VC/C++、VC#、LabVIEW、LabWindows/CVI 等读/写。
系统扩展
利用TSP-Link 扩展接口,使支持TSP 的仪器之间能够进行触发和通信。
通用技术指标
USB:USB 2.1 主机控制器,支持外部数据存储。
接触检查:1ms 最小测量时间;5%基本准确度。
PC 接口:IEEE-488.1 和.2;LXI Class C Ethernet;RS-232。
数字I/O 接口:输入/输出引脚:14 位 I/O。最大5.25V。
电源:100 V 至250 VAC,50 Hz – 60 Hz(自动检测),最大550 VA
制冷:强制风冷。侧面和顶部吸入,后背板排出。
EMC:符合欧盟EMC 指令。
安全:UL 认证,符合UL61010-1:2004 标准符合欧盟低电压指令。
质保:1 年。
尺寸:89mm 高× 435mm 宽× 549mm 深(3.5 in × 17.1 in × 21.6 in)。台式配置(含把 手和支脚):104mm 高× 483mm 宽× 620mm 深(4.1 in × 19 in × 24.4 in)
重量:9.98kg (22 lbs).
环境:仅限室内使用。
校准周期:1 年。
2657A是一种高电压、高功率、低电流源测量单元(SMU),具有迄今为止最高的功率、 精度、速度、灵活性和易用性,能够大大提高研发、生产测试和可靠性环境的测试效 率。2657A是专门针对高压电子和功率半导体器件的特征分析与测试而设计的,例如 二极管、FET和IGBT,以及其它一些需要高电压、快速响应和精确测量电压和电流的元 件和材料。2657A是吉时利功率半导体特征分析和测试解决方案的2600A系列产品,具 有业界最高的功率和最佳的低电流性能。这些用户可配置的解决方案采用了业界最 强大的参数式特征分析软件平台,能够随着用户应用的发展进行升级。
2657A与其它2600A系列数字源表一样,具有高度灵活的四象限电压和电流源/负载, 并配置了精密电压和电流计。它可以用作:
• 半导体特征分析仪
• 电压或电流波形发生器
• 电压或电流脉冲发生器
• 支持电压和电流读回的精密电源
• 真电流源
• 数字万用表(DCV、DCI、欧姆 和六位半分辨率电源)
• 精密电子负载
2657A能够提供或吸收高达3000V@20mA或1500V@120mA的电源
主要特性:
• 提供或吸收高达180W的直流或脉冲电 源(±3000V@20mA,±1500V@120mA)
• 1fA低电流分辨率
• 用于高精度和高速瞬态捕获的双22位 精度ADC和每点双18位1μs数字转换器
• 易于与其它2600A数字源表进行系统集 成的全TSP®兼容能力
• 单台仪器内集成了精密电源、电流 源、DMM、任意波形发生器、电压或电 流脉冲发生器、电子18位负载和触发 控制器
• 内含TSP® Express特征分析软 件、LabVIEW ®驱动和吉时利的Test Script Builder软件开发环
典型应用:
• 功率半导体器件特征分析与测试
• GaN、SiC和其它一些复合材料与器件 的特征分析
• 高达3kV的击穿与漏流测试
• 亚毫秒瞬态特征分析
两种测量模式:数字式或积分式 利用2657A的两种测量模式,可以对器件的瞬态和稳态特性进行精确的特征分析,包括快 速改变热效应。每种模式是由其独立的模数(A/D)转换器决定的。
数字式测量模式能够实现高达1μs的采样速度。利用其双18位数字转换器能够同时捕获 电压和电流瞬态。在积分式测量模式下,利用其双22位积分式模数转换器能够实现更精 确的电压与电流测量。每种测量模式都使用两个A/D转换器,一个用于电流,另一个用于 电压,两个转换器同时工作可以实现精确的电源读回,且不影响测试产能。
双高速A/D转换器能够实现最快每点1μs的采样速度,支持电压和电流的全同时特征分析。
扩展功能
通过TSP-Link®技术,2657A能够与其它2600A系列仪器连接在一起,构成更大的具有最高 32个节点的集成式系统。内置的500ns触发控制器能够确保精确定时与紧密通道同步功 能。利用完全隔离且独立的数字源表通道可以进行真正的每pin脚SMU测试。
高功率器件测试夹具
8010高功率器件测试夹具能够为高达3000V或100A下带封装的高功率器件的测试提供安全和 方便的连接。8010提供的连接支持一个高压数字源表(2657A)、一个或两个高电流数字源表 (2651A)、三个低功率数字源表(其它2600A系列或4200-SCS SMU)。利用这一功能,就可以 安全而准确地对双端(二极管)、三端(晶体管)甚至四端或五端器件进行特征分析。8010具 有全互锁功能最多可支持六台数字源表。8010集成了保护电路,能够保护低压数字源表免受 2657A输出高压造成的器件故障。8010内含高电流(100A)和高电压(3000V)测试测试接口。还 有可选的各种备用测试接口,包括TO-247、TO-220、轴心线,以及可以构建自定义接口的一个 空接口模块。除了标准的香蕉跳线,8010还具有背板指示器和热探针端口,可简化系统集成。
2600A系列仪器的标准功能
2每台2657A都具有其它2600A系列数字源 表所具有的特性和功能:
• 使用灵活,可用作台式I-V特征 分析工具,也可以作为多通道I-V 测试系统的组成模块;
• TSP Express软件,无需编程或安 装其它软件即可快速而方便地执 行常用的I-V测试。
• 用于半导体元件特征分析的ACS Basic Edition软件(可选)。ACS Basic Edition现在提供了“Trace” 模式,可产生一套特征曲线。
• 吉时利的Test Script Processor (TSP)技术支持创建并运行自定义 的用户测试脚本,用于实现高速自 动化测试,以及创建使测试仪能够 在没有PC直接控制的情况下进行 异步操作的程序序列。
• 当系统中多台2600A系列仪器 连接在一起时,具有并行测试 执行和精确定时功能。 • 兼容LXI Class C。
• 14位数字I/O线,用于直接连接探针 台、元件机械手或其它自动化工具。
• USB端口,用于通过USB存储器保存额 外的数据和测试程序。
2657A主要技术指标1
源 | 测量 | ||||
量程 | 编程分辨率 | 精度 | 显示分辨率 | 积分ADC精度2 ±(% rdg + V) | 高速ADC精度3 ±(% rdg + V) |
200 V | 5 mV | 0.03% + 50 mV | 100 μV | 0.025% + 50 mV | 0.05% + 100 mV |
500 V | 10 mV | 0.03% + 125 mV | 100 μV | 0.025% + 100 mV | 0.05% + 200 mV |
1500 V | 40 mV | 0.03% + 375 mV | 1 mV | 0.025% + 300 mV | 0.05% + 600 mV |
3000 V | 80 mV | 0.03% + 750 mV | 1 mV | 0.025% + 600 mV | 0.05% + 1.2 V |
电流精度指标4
源 | 测量 | ||||
量程 | 编程分辨率 | 精度 | 显示分辨率 | 积分ADC精度2 ±(% rdg + A) | 高速ADC精度 3 ±(% rdg + A) |
1 nA | 30 fA | 0.1% + 2E–12 + VoE–15 | 1 fA | 0.1% + 6E–13 + VoE–15 | 0.2% + 6E–13 + VoE–15 |
10 nA | 300 fA | 0.1% + 5E–12 + VoE–15 | 10 fA | 0.1% + 5E–12 + VoE–15 | 0.2% + 5E–12 + VoE–15 |
100 nA | 3 pA | 0.1% + 6E–11 + VoE–13 | 100 fA | 0.1% + 6E–11 + VoE–13 | 0.2%+ 6E–11 + VoE–13 |
1 μA | 30 pA | 0.03% + 700 pA | 1 pA | 0.025% + 400 pA | 0.08% + 800 nA |
10 μA | 300 pA | 0.03% + 5 nA | 10 pA | 0.025% + 1.5 nA | 0.08% + 3 nA |
100 μA | 3 nA | 0.03% + 60 nA | 100 pA | 0.02 % + 25 nA | 0.05% + 50 nA |
1 mA | 30 nA | 0.03% + 300 nA | 1 nA | 0.02 % + 200 nA | 0.05%+ 400 nA |
2 mA | 60 nA | 0.03% + 1.2 μA | 1 nA | 0.02 % + 500 nA | 0.05% + 1 μA |
20 mA | 600 nA | 0.03% + 12 μA | 10 nA | 0.02 % + 5 μA | 0.05%+ 10 μA |
120 mA | 3 μA | 0.03% + 36 μA | 100 nA | 0.02 % + 24 μA | 0.05%+ 50 μA |
1.对于0°到18°C以及28°到50°C的温度,精度下降 ±(0.15 × 精度指标) °C。
2. 对于NPLC设置<1因增加了误差项而降低了精度指标。对于阻性负载使用下表适当增加量程项的百分比。
NPLC 设置 | 200V和500V | 1500V和3000V | 100nA | 1μA到120mA |
0.1 | 0.01% | 0.01% | 0.01% | 0.01% |
0.01 | 0.08% | 0.07% | 0.1 % | 0.05% |
0.001 | 0.8 % | 0.6 % | 1 % | 0.5 % |
3.18位ADC。间隔1μs的1000个样本均值。
4.对于0°到18°C以及28°到50°C的温度,精度下降 ±(0.35 × 精度指标) °C
其它特性
典型电压源噪声:量程的0.005%。
典型电流源噪声:量程的0.08%。
典型电压源设置:<1ms到200V,<7ms到3000V。
典型电流源设置:<5ms到120MA,<200ms到1µA。
相关指标如有改变恕不另行通知。
触发与同步指标
触发:TRIGGER IN到TRIGGER OUT:0.5µs,典型值。
同步:单节点或多节点同步源变化:<0.5μs,典型值。
编程
TEST SCRIPT BUILDER: 用于编辑、运行和管理TSP脚本的集成式开发环境。
TSP EXPRESS (内嵌的):无需编程或安装其它软件即可使用户快速而方便地执行常见I-V测试的工具。
软件接口:TSP EXPRESS(内嵌的)、DIRECT GPIB/VISA、支持VB的读/写、VC/C++、 VC#、LABVIEW、TESTPOINT、LABWINDOWS/CVI等。
系统扩展
支持TSP功能的仪器通过TSP-Link扩展接口可以相互触发和通信。如下图所示:
2657A能够提供或吸收高达3000V@20mA或1500V@120mA的电源
一般性指标
USB:USB 2.1主控制器,支持外部数据存储。
接触检查:± 50Ω
PC接口:IEEE-488.1和.2;LXI CLASS C以太网;RS-232。
数字I/O接口:输入/输出脚:14个漏极开路I/O位。最大5.25V。
电源:100V到250V交流,50HZ–60HZ(自动检测),最大功率550VA。
冷却:强迫风冷。侧面和顶部吸气,后部排气。
EMC:符合欧盟EMC指令。
安全性:ETL列出(待确认)。符合欧盟低压指令。
质保期:1年。
尺寸:高89mm × 宽435mm × 深549mm(3.5in × 17.1in × 21.6in)。测试台配置(带手柄和腿):高104mm × 宽483mm × 深620mm(4.1in × 19in × 24.4in)。
重量:9.98KG(22lbs)。
使用环境:仅适合室内使用。
校准周期:一年。
泰克Keithley 2650 系列高功率 SourceMeter® SMU 仪器